MXY8003光電技術(shù)綜合實訓(xùn)平臺是由光學(xué)導(dǎo)軌、數(shù)字儀表及電子元器件平臺、52單片機設(shè)計組件及CCD設(shè)計組件等部分構(gòu)成，儀器配備各種電源接口及0-200V 高壓可調(diào)電源和0-12V低壓可調(diào)電源，可為學(xué)生搭建各種實驗電路提供電源。學(xué)生能夠利用平臺自行搭建各種光學(xué)系統(tǒng)、光電傳感器的變換及處理電路，完成各種關(guān)于光電技術(shù)方面的應(yīng)用開發(fā)設(shè)計，從各方面提高學(xué)生的動腦動手能力及創(chuàng)新意識，幫助高校培養(yǎng)光電技術(shù)人才。

1、光學(xué)導(dǎo)軌：可利用導(dǎo)軌滑塊自行調(diào)節(jié)光學(xué)配件的距離，配合電子元器件搭建出幾何光學(xué)、物理光學(xué)、光電檢測與光電控制等系統(tǒng)，并與儀器內(nèi)部的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)相結(jié)合完成各種實驗系統(tǒng)。

2、數(shù)字儀表平臺：平臺提供2塊數(shù)字電壓表（四位半），2塊數(shù)字電流表（四位半）和1塊自動更換量程的數(shù)字照度計，這些數(shù)字儀表可以應(yīng)用在電路中進(jìn)行各種電路參數(shù)的測量。

3、電阻、電容 及器件平臺：此平臺配備各種電阻、電容、二極管、三極管、集成運算放大器、光電耦合器件，學(xué)生在此平臺靈活搭建電路來完成實驗。

4、52單片機程序下載平臺：學(xué)生在此平臺來完成有關(guān)單片機方面的設(shè)計實驗也可做畢業(yè)設(shè)計、創(chuàng)新設(shè)計。

5、線陣CCD驅(qū)動電路平臺：學(xué)生在此平臺自行設(shè)計線陣CCD驅(qū)動電路。

6、現(xiàn)場可編程邏輯器件（CPLD）設(shè)計平臺：通過CPLD進(jìn)行開發(fā)設(shè)計，提高學(xué)生動腦能力。7、計算機功能軟件：平臺配備有各種功能軟件，包括線陣CCD尺寸測量、角度測量、位移測量、條碼識別、圖像掃描軟件，面陣CCD邊緣與輪廓檢測、物體的尺寸測量、圖像的點運算、圖像的幾何變換、圖像采集與參數(shù)設(shè)置、投影與差影圖像分析、圖像的濾波與增強、形態(tài)學(xué)處理、旋轉(zhuǎn)與縮放、顏色識別與變換等圖像處理軟件。不但提供DEMO演示軟件還提供SDK軟件開發(fā)包，供學(xué)生進(jìn)行二次開發(fā)。

教學(xué)目的

1、了解并掌握各種光學(xué)配件及其實驗的原理和應(yīng)用；

2、了解并掌握各種光電傳感器的工作原理、變換電路、處理電路；

3、了解并掌握52單片機程序編寫；

4、了解并掌握52單片機外圍電路設(shè)計；

5、了解CPLD的應(yīng)用開發(fā)技術(shù)；

它能夠完成下述實驗內(nèi)容：

光電技術(shù)方面實驗

1、光敏電阻特性參數(shù)及其測量；

2、光敏電阻伏安特性實驗；

  3、光敏電阻的變換電路；

4、光敏電阻時間響應(yīng)特性；

5、光電二極管光照靈敏度的測量；

6、光電二極管伏安特性的測量；

7、光電二極管時間響應(yīng)特性的測量；

8、硅光電池在不同偏置狀態(tài)下的特性參數(shù)及其測量；

9、測量硅光電池在反向偏置下的時間響應(yīng)；

10、光電三極管光照靈敏度的測量；

11、光電三極管伏安特性的測量；

12、光電三極管時間響應(yīng)的測量；

13、光電三極管光譜特性的測量；

14、光電耦合器電流傳輸比的測量；

15、光電耦合器件伏安特性的測量；

16、光電耦合器件時間相應(yīng)的測量；

17、熱釋電器件基本原理實驗；

18、熱釋電器件光譜響應(yīng)的測試實驗；

19、PSD位移傳感器特性參數(shù)的測量；

20、四象限光電傳感特性實驗；

21、雪崩光電二極管（APD）特性實驗；

22、PIN光電二極管特性實驗；

23、紫外線探測傳感器特性參數(shù)測量實驗；

24、紫外線強度測量實驗；

25、紫外線驗鈔機原理實驗 ；

26、線陣CCD驅(qū)動系統(tǒng)設(shè)計實驗；

27、太陽能電池特性實驗；

28、光電測距實驗；

29、光電調(diào)制實驗；

光電檢測技術(shù)實驗

1、線陣CCD 原理與驅(qū)動特性

2、線陣CCD 輸出特性的測量

3、利用線陣CCD 進(jìn)行物體外形尺寸的測量

4、線陣CCD 的A/D 數(shù)據(jù)采集

5、用軟件提取邊緣信號的二值化

6、利用線陣CCD 測量物體的傾斜角度

7、條形碼的測量與識別實驗

8、用線陣CCD 測量物體的振動

9、利用線陣CCD 進(jìn)行圖像掃描

10、光柵與莫爾條紋實驗；

11、面陣CCD原理與驅(qū)動實驗；

12、利用面陣CCD測量物體外形尺寸；

13、利用面陣CCD提取物體的邊緣與輪廓；

14、利用面陣CCD進(jìn)行圖像采集與參數(shù)設(shè)置；

15、利用面陣CCD進(jìn)行投影與差影圖像分析；

16、利用面陣CCD進(jìn)行圖像的濾波與增強；

17、利用面陣CCD進(jìn)行形態(tài)學(xué)處理；

18、利用面陣CCD進(jìn)行物體的旋轉(zhuǎn)與縮放；

19、利用面陣CCD對顏色識別；

20、利用面陣CCD進(jìn)行圖像信息的點運算；

21、利用面陣CCD進(jìn)行圖像的幾何變換；

22、利用面陣CCD進(jìn)行數(shù)據(jù)采集實驗；

（一）二次開發(fā)實驗（52單片機開發(fā)實驗）

1、52單片機程序編寫實驗；

2、52單片機外圍電路設(shè)計實驗；

  3、基于52單片機的數(shù)字時鐘設(shè)計實驗；

（二）CPLD應(yīng)用技術(shù)方面的實驗

1、編寫與設(shè)計時鐘邏輯電路實驗；

2、編寫與設(shè)計2160像元的線陣CCD驅(qū)動電路實驗；

3、編寫與設(shè)計線陣CCD二值化數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)邏輯電路；

備注：客戶自行配置示波器。